大学案内
学部・大学院
キャンパスライフ
キャリア支援
入試情報
受験生の方
在学生の方
卒業生の方
一般の方
企業の方
新着情報
EVENT
お問い合わせ
ENGLISH
サイト内検索
教員紹介
タケシタ タツヤ
TAKESHITA TATSUYA
竹下 達也
所属
九州産業大学 理工学部 電気工学科
職種
教授
学会発表
2021/09/24
逆バイアス印加を使った多結晶Si太陽電池の劣化試験の検討 (口頭発表,一般)
2020/09/26
LBIC法を用いた多結晶Si太陽電池の表面劣化解析 (口頭発表,一般)
2020/09/27
SiC-MOSFETとRaspberry PiでMPPT制御したソーラーLEDシステムの試作 (口頭発表,一般)
2019/09/20
LBIC法を用いたmc-Si太陽電池の表面近傍劣化の解析 (口頭発表,一般)
2016/09/20
光通信用半導体レーザの劣化姿態 (口頭発表,一般)
2013/09/23
低温における半導体レーザの挙動 (口頭発表,一般)
2011/09
光励起電流法を用いた半導体レーザの劣化解析 (口頭発表,一般)
2010/09
OBIC法を用いたp-/n-InP埋込み構造FPレーザの第一段劣化の解析 (口頭発表,一般)
2009/09
ガスセンシング用2μm波長帯半導体レーザ (口頭発表,一般)
2009/09
InAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析 (口頭発表,一般)
2009/03
2.3-μm波長高歪InAs/InP MQW-DFBレーザの長期安定動作 (口頭発表,一般)
2008/03
2.1-μm波長DFBレーザの長期安定動作の解析 (口頭発表,一般)
2019/09/29
LBIC法を用いた太陽電池表面近傍における面内分布に関する研究 (口頭発表,一般)
2023/09/07
多結晶Si太陽電池の回復に関する検討 (口頭発表,一般)
2023/03/30
Classification of Commercial SiC-MOSFETs Based on Time-Dependent Gate-Current Characteristics (口頭発表,一般)
2022/09/17
バイアス高温試験を行った多結晶Si太陽電池の表面近傍の解析 (口頭発表,一般)
2021/10/26
Significant Differences in BTI and TDDB Characteristics of Commercial Planar SiC-MOSFETs (ポスター,一般)
2019/10/02
TDDB lifetime enhancement of SiC-MOSFETs under gate-swithing operation (ポスター,一般)
2017/09/19
Suppression of PBTI of SiC-MOSFETs under 100 kHz Gate-Switching Operation by Using a Gate Off-Voltage of -5 V (ポスター,一般)
2016/09/27
Positive Bias Temperature Instability of SiC-MOSFETs Induced by Switching Operation (AC-PBTI) (ポスター,一般)
2015/09/29
Special Features in Stress Degradation of SiC-MOSFETs Observed in I-V Characteristics (ポスター,一般)
2013/09
低温における半導体レーザの挙動 (口頭発表,一般)
2010/02
OBIC法による通信用半導体レーザの劣化解析と信頼性 (口頭発表,一般)
2009/12
OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析 (口頭発表,一般)
2009/11
Failure analysis using optical evaluation technique (OBIC) of LDs for fiber optical communication (口頭発表,一般)
2008/04
光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析 (口頭発表,一般)
2008/02
通信用半導体レーザの信頼性と解析技術 (口頭発表,一般)
2007/10
2.33-?m wavelength InAs/InGaAs MQW DFB lasers grown by MOVPE (口頭発表,一般)
2007/09
OBICを用いた半導体ファブリ・ペローレーザの摩耗故障の解析 (口頭発表,一般)
2007/09
高温特Ru添加SIBH-DFBレーザの長期安定動作の解析 (口頭発表,一般)
2007/03
OBICモニタを用いたDFBレーザの内部劣化の解析 (口頭発表,一般)
2006/10
高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ (口頭発表,一般)
2006/09
ハイメサSIBH構造高信頼1.5μmDFBレーザ (口頭発表,一般)
2006/06
高抵抗RuドープInP埋込み構造を用いた1.3μm帯InGaAsP DFBレーザの100℃,10Gb/s動作 (口頭発表,一般)
2006/03
Highly reliable (<1000 FITs at 95?C) 1.5-?m DFB laser with high-mesa SIBH structure for CWDM systems (口頭発表,一般)
2006/03
Ruドープ半絶縁性InP埋込み構造を用いた1.3μm帯直接変調DFBレーザの100℃,10Gb/s動作 (口頭発表,一般)
2005/09
光励起電流測定を用いた活性層近傍の濃度分析 (口頭発表,一般)
2005/03
Ruドープ半絶縁性InP埋込み構造を用いた1.3μm帯直接変調DFBレーザ (口頭発表,一般)
2004/12
InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの突発故障解析 (口頭発表,一般)
2004/09
Reliable non-Zn-diffused InP/InGaAs avalanche photodiode with a buried n-InP layer operated by electron injection mode (口頭発表,一般)
2004/09
OBICモニタによるInGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの突発故障解析 (口頭発表,一般)
2004/09
埋め込みn型領域を有するInP/InGaAsアバランシェフォトダイオード (口頭発表,一般)
2004/08
高抵抗RuドープInP埋込み構造を用いた1.3μm帯直接変調DFBレーザ (口頭発表,一般)
2004/04
InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの端面劣化姿態 (口頭発表,一般)
2003/09
OCT応用1300nmSLDにおけるリップル低減の検討 (口頭発表,一般)
2003/09
アブレーションエッチングを用いたLD端面膜の反射率調整 (口頭発表,一般)
2003/04
半導体光増幅器(SOA)の劣化解析 (口頭発表,一般)
1998/10
Degradation behavior in InGaAs/GaAs strained-quantum well lasers (口頭発表,一般)
1998/03
InGaAs歪量子井戸レーザの劣化と端面の光励起電流の相関 (口頭発表,一般)
1997/09
プレーナ導波路型フォトダイオード(SIMPLE-WGPD)の信頼性評価 (口頭発表,一般)
1997/09
不連続光導波路解析のための有限要素法を用いた双方向MoL-BPM(FE-MoL-BPM)の提案 (口頭発表,一般)
1997/07
Reliability and degradation behavior of a InGaAsP/InP waveguide photodiode for subscriber systems (口頭発表,一般)
1997/03
半導体光導波路の端面反射率の3次元セミベクトル解析 (口頭発表,一般)
1996/12
偏波無依存LD型光ゲートスイッチ (口頭発表,一般)
1996/09
偏波無依存LD型光スイッチモジュール (口頭発表,一般)
1996/03
偏波無依存ゲート型光スイッチ (口頭発表,一般)
1994/09
InGaAs/GaAs歪量子井戸構造の利得特性 (口頭発表,一般)
1992/03
1×NモノリシックLDSW (口頭発表,一般)
1992/03
第二量子レベルを使ったLD緩和振動周波数の高速化 (口頭発表,一般)
1991/10
Reliability and degradation of 980 nm InGaAs/GaAs strained-layer quantum well lasers (口頭発表,一般)
1990/10
Er添加ファイバにおける増幅特性の比屈折率差依存性 (口頭発表,一般)
1990/09
0.98μm帯InGaAs/GaAs量子井戸レーザの高出力特性 (口頭発表,一般)
1990/09
ファイバアンプ用0.98μm帯InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの高安定動作 (口頭発表,一般)
1990/09
高安定0.98μm帯InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザ (口頭発表,一般)
1990/08
0.98-?m laser diode pumped erbium-doped fiber amplifiers with a gain coefficient of 7.6 dB/mW (口頭発表,一般)
1990/08
量子井戸・歪超格子構造の結晶成長 (口頭発表,一般)
1990/06
歪超格子レーザとファイバアンプ (口頭発表,一般)
1990/03
Er3+ドープファイバ光増幅器励起用高出力InGaAs歪量子井戸レーザ (口頭発表,一般)
1990/03
半導体レーザ増幅器の雑音特性 (口頭発表,一般)
1990/02
Stable, high-power 0.98-?m InGaAs/GaAs strained quantum well ridge waveguide lasers for pumping fiber amplifier (口頭発表,一般)
1990/02
0.98μm帯InGaAs/GaAs量子井戸レーザとEr3+ドープファイバ光増幅器特性 (口頭発表,一般)
1990/02
InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザ (口頭発表,一般)
1989/12
0.98μm帯InGaAs/GaAsひずみ量子井戸リッジ導波型レーザ (口頭発表,一般)
1989/09
Low-threshold high-efficiency strained-layer InGaAs single-quantum-well ridge waveguide lasers (口頭発表,一般)
1989/09
0.98μm帯LD励起光ファイバ増幅器 (口頭発表,一般)
1989/09
高出力InGaAs歪量子井戸レーザ (口頭発表,一般)
1989/09
低閾値InGaAs量子井戸レーザ (口頭発表,一般)
1989/07
0.98-?m InGaAs strained quantum well lasers for erbium-doped fiber optical amplifiers (口頭発表,一般)
1987/10
細線構造多結晶Si-TFTの検討 (口頭発表,一般)
1987/07
多結晶Siを用いた高耐圧TFT (口頭発表,一般)
1987/03
細線Poly-Siの電気的特性とTFTへの応用 (口頭発表,一般)