教員紹介

• 2021/09/24 逆バイアス印加を使った多結晶Si太陽電池の劣化試験の検討 （口頭発表，一般）

• 2020/09/26 LBIC法を用いた多結晶Si太陽電池の表面劣化解析 （口頭発表，一般）

• 2016/09/20 光通信用半導体レーザの劣化姿態 （口頭発表，一般）

• 2013/09/23 低温における半導体レーザの挙動 （口頭発表，一般）

• 2011/09 光励起電流法を用いた半導体レーザの劣化解析 （口頭発表，一般）

• 2010/09 ＯＢＩＣ法を用いたp-/n-InP埋込み構造ＦＰレーザの第一段劣化の解析 （口頭発表，一般）

• 2009/09 ガスセンシング用２μｍ波長帯半導体レーザ （口頭発表，一般）

• 2009/09 ＩｎＡｓ／ＩｎＰ ＭＱＷ－ＤＦＢレーザの安定動作の解析 （口頭発表，一般）

• 2009/03 ２.３-μｍ波長高歪ＩｎＡｓ/ＩｎＰ ＭＱＷ-ＤＦＢレーザの長期安定動作 （口頭発表，一般）

• 2008/03 ２.１-μｍ波長ＤＦＢレーザの長期安定動作の解析 （口頭発表，一般）

• 2019/09/29 LBIC法を用いた太陽電池表面近傍における面内分布に関する研究 （口頭発表，一般）

• 2019/10/02 TDDB lifetime enhancement of SiC-MOSFETs under gate-swithing operation （ポスター，一般）

• 2017/09/19 Suppression of PBTI of SiC-MOSFETs under 100 kHz Gate-Switching Operation by Using a Gate Off-Voltage of -5 V （ポスター，一般）

• 2016/09/27 Positive Bias Temperature Instability of SiC-MOSFETs Induced by Switching Operation (AC-PBTI) （ポスター，一般）

• 2015/09/29 Special Features in Stress Degradation of SiC-MOSFETs Observed in I-V Characteristics （ポスター，一般）

• 2009/11 Failure analysis using optical evaluation technique (OBIC) of LDs for fiber optical communication （口頭発表，一般）

• 2007/10 2.33-?m wavelength InAs/InGaAs MQW DFB lasers grown by MOVPE （口頭発表，一般）